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Texas Instruments

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- Burr-Brown was acquired by Texas Instruments on June 21, 2000. Burr-Brown was a developer of high-performance analog products. They designed data converters including 24-bit products. This acquisition allowed Texas Instruments to accelerate their data converter product roadmap by several years.

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SN74ABTE16246DLG4 对比 收藏 SN74ABTE16246DLG4 pdf规格书 商品编号:IC02637827 品牌:Texas Instruments 封装规格:48-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABTE16246DLG4 规格描述: IC 11BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP
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SN74ABTE16245DLG4 对比 收藏 SN74ABTE16245DLG4 pdf规格书 商品编号:IC02637826 品牌:Texas Instruments 封装规格:48-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABTE16245DLG4 规格描述: IC 16BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP
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SN74ABT8952DLRG4 对比 收藏 SN74ABT8952DLRG4 pdf规格书 商品编号:IC02637825 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8952DLRG4 规格描述: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP
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SN74ABT8952DLR 对比 收藏 SN74ABT8952DLR pdf规格书 商品编号:IC02637824 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8952DLR 规格描述: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP
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SN74ABT8652DWRE4 对比 收藏 SN74ABT8652DWRE4 pdf规格书 商品编号:IC02637823 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8652DWRE4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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SN74ABT8652DWR 对比 收藏 SN74ABT8652DWR pdf规格书 商品编号:IC02637822 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8652DWR 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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SN74ABT8652DLRG4 对比 收藏 SN74ABT8652DLRG4 pdf规格书 商品编号:IC02637821 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8652DLRG4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
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SN74ABT8652DLR 对比 收藏 SN74ABT8652DLR pdf规格书 商品编号:IC02637820 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8652DLR 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
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SN74ABT8646DWRE4 对比 收藏 SN74ABT8646DWRE4 pdf规格书 商品编号:IC02637819 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8646DWRE4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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SN74ABT8646DWR 对比 收藏 SN74ABT8646DWR pdf规格书 商品编号:IC02637818 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8646DWR 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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SN74ABT8543DWRE4 对比 收藏 SN74ABT8543DWRE4 pdf规格书 商品编号:IC02637817 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8543DWRE4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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SN74ABT8543DWR 对比 收藏 SN74ABT8543DWR pdf规格书 商品编号:IC02637816 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8543DWR 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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SN74ABT8543DLR 对比 收藏 SN74ABT8543DLR pdf规格书 商品编号:IC02637815 品牌:Texas Instruments 封装规格:28-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT8543DLR 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
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SN74ABT18640DLRG4 对比 收藏 SN74ABT18640DLRG4 pdf规格书 商品编号:IC02637814 品牌:Texas Instruments 封装规格:56-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT18640DLRG4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
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SN74ABT18640DLR 对比 收藏 SN74ABT18640DLR pdf规格书 商品编号:IC02637813 品牌:Texas Instruments 封装规格:56-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74ABT18640DLR 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
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