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Texas Instruments

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- Burr-Brown was acquired by Texas Instruments on June 21, 2000. Burr-Brown was a developer of high-performance analog products. They designed data converters including 24-bit products. This acquisition allowed Texas Instruments to accelerate their data converter product roadmap by several years.

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SN74FB2031RCG3 对比 收藏 SN74FB2031RCG3 pdf规格书 商品编号:IC02637797 品牌:Texas Instruments 封装规格:52-QFP 型号:SN74FB2031RCG3 规格描述: IC TXRX ADDRESS/DATA 9BIT 52-QFP
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¥209.656
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SN74F283NSRE4 对比 收藏 SN74F283NSRE4 pdf规格书 商品编号:IC02637796 品牌:Texas Instruments 封装规格:16-SOIC (0.209, 5.30mm Width) 型号:SN74F283NSRE4 规格描述: IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO
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SN74F283NSR 对比 收藏 SN74F283NSR pdf规格书 商品编号:IC02637795 品牌:Texas Instruments 封装规格:16-SOIC (0.209, 5.30mm Width) 型号:SN74F283NSR 规格描述: IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO
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¥2.92
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SN74F283DR 对比 收藏 SN74F283DR pdf规格书 商品编号:IC02637794 品牌:Texas Instruments 封装规格:16-SOIC (0.154, 3.90mm Width) 型号:SN74F283DR 规格描述: IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC
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¥1.679
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SN74F1056DE4 对比 收藏 SN74F1056DE4 pdf规格书 商品编号:IC02637793 品牌:Texas Instruments 封装规格:16-SOIC (0.154, 3.90mm Width) 型号:SN74F1056DE4 规格描述: IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC
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¥7.3
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SN74BCT8374ANTG4 对比 收藏 SN74BCT8374ANTG4 pdf规格书 商品编号:IC02637792 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-DIP (0.300, 7.62mm) 型号:SN74BCT8374ANTG4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
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SN74BCT8374ANT 对比 收藏 SN74BCT8374ANT pdf规格书 商品编号:IC02637791 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-DIP (0.300, 7.62mm) 型号:SN74BCT8374ANT 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
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¥30.149
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SN74BCT8374ADWRE4 对比 收藏 SN74BCT8374ADWRE4 pdf规格书 商品编号:IC02637790 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74BCT8374ADWRE4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
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SN74BCT8374ADWR 对比 收藏 SN74BCT8374ADWR pdf规格书 商品编号:IC02637789 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74BCT8374ADWR 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
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SN74BCT8373ANT 对比 收藏 SN74BCT8373ANT pdf规格书 商品编号:IC02637788 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-DIP (0.300, 7.62mm) 型号:SN74BCT8373ANT 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
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¥40.515
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SN74BCT8373ADWRE4 对比 收藏 SN74BCT8373ADWRE4 pdf规格书 商品编号:IC02637787 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74BCT8373ADWRE4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
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SN74BCT8373ADWR 对比 收藏 SN74BCT8373ADWR pdf规格书 商品编号:IC02637786 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) 型号:SN74BCT8373ADWR 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
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¥25.039
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SN74BCT8245ANTG4 对比 收藏 SN74BCT8245ANTG4 pdf规格书 商品编号:IC02637785 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-DIP (0.300, 7.62mm) 型号:SN74BCT8245ANTG4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
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SN74BCT8245ANT 对比 收藏 SN74BCT8245ANT pdf规格书 商品编号:IC02637784 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-DIP (0.300, 7.62mm) 型号:SN74BCT8245ANT 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
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¥68.182
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SN74BCT8244ANTG4 对比 收藏 SN74BCT8244ANTG4 pdf规格书 商品编号:IC02637783 品牌:Texas Instruments 封装规格:24-DIP (0.300, 7.62mm) 型号:SN74BCT8244ANTG4 规格描述: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
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